(1)验收监测前应对CR系统所有供货清单盘点和核查。

(2)验收检测前应对每块成像板(IP)和暗盒进行目视检查，是否有表面缺陷或刮擦痕迹；检查暗盒的开启和合拢是否灵活，将发现的所有问题登记在清单表中或检测报告中。

(3)验收检测前对CR主机设备的外围附属的各种设备，如激光打印机、工作站影像监视器、胶片观片箱都应进行初始调试和检测。

(4)所有成像板(IP)必须进行清洁和擦除处理。

(5)IP曝光后阅读前的延迟时间通常在1～15分钟，推荐10分钟延迟。

(6)检测中将焦点至IP的距离(SID)调为180cm，如达不到则调节为最接近于180cm的值，目的是减少反散射贡献、降低足跟效应。

(7)采用电离室测量IP入射空气比释动能时，电离室离IP不低于30cm，并在IP下面放一个铅橡胶围裙，以降低反散射贡献。

(8)检测条件使用0.5mmCu和1mmA1滤过，80kVp。因在此条件下，CR的响应变化对kVp最小。

(9)对CR系统进行专用项目检测前，首先应进行通用项目检测。只有确认通用检测项目满足要求，才能认为专用检测项目检测结果是可靠的。